Vũ Xuân Mạnh, Lê Hồng Minh, Lê Văn Bé và Nguyễn Huy Tiệp, Lê Việt Cường* 2024. Nghiên cứu ảnh hưởng của lớp Ti tới độ ổn định của cảm biến cộng hưởng plasmon bề mặt loại đo dòng cấu trúc ITO/aSi:H/Ti/Au. Bản B của Tạp chí Khoa học và Công nghệ Việt Nam. 66, 10DB (tháng 10 2024). DOI:https://doi.org/10.31276/VJST.66(10DB).22-27.