Vũ Xuân Mạnh, Lê Hồng Minh, Lê Văn Bé, & Nguyễn Huy Tiệp, Lê Việt Cường*. (2024). Nghiên cứu ảnh hưởng của lớp Ti tới độ ổn định của cảm biến cộng hưởng plasmon bề mặt loại đo dòng cấu trúc ITO/aSi:H/Ti/Au. Bản B của Tạp Chí Khoa học Và Công nghệ Việt Nam, 66(10DB). https://doi.org/10.31276/VJST.66(10DB).22-27