VŨ XUÂN MẠNH, LÊ HỒNG MINH; LÊ VĂN BÉ; NGUYỄN HUY TIỆP, LÊ VIỆT CƯỜNG*. Nghiên cứu ảnh hưởng của lớp Ti tới độ ổn định của cảm biến cộng hưởng plasmon bề mặt loại đo dòng cấu trúc ITO/aSi:H/Ti/Au. Bản B của Tạp chí Khoa học và Công nghệ Việt Nam, [S. l.], v. 66, n. 10DB, 2024. DOI: 10.31276/VJST.66(10DB).22-27. Disponível em: https://b.vjst.vn/index.php/ban_b/article/view/3593. Acesso em: 7 tháng 8. 2026.