Vũ Xuân Mạnh, Lê Hồng Minh, Lê Văn Bé, và Nguyễn Huy Tiệp, Lê Việt Cường*. 2024. “Nghiên cứu ảnh hưởng của lớp Ti tới độ ổn định của cảm biến cộng hưởng Plasmon bề mặt loại đo dòng cấu Trúc ITO/ASi:H/Ti/Au”. Bản B của Tạp Chí Khoa học Và Công nghệ Việt Nam 66 (10DB). https://doi.org/10.31276/VJST.66(10DB).22-27.