Vũ Xuân Mạnh, Lê Hồng Minh, Lê Văn Bé và Nguyễn Huy Tiệp, Lê Việt Cường* (2024) “Nghiên cứu ảnh hưởng của lớp Ti tới độ ổn định của cảm biến cộng hưởng plasmon bề mặt loại đo dòng cấu trúc ITO/aSi:H/Ti/Au”, Bản B của Tạp chí Khoa học và Công nghệ Việt Nam, 66(10DB). doi: 10.31276/VJST.66(10DB).22-27.