Vũ Xuân Mạnh, Lê Hồng Minh, Lê Văn Bé, và Nguyễn Huy Tiệp, Lê Việt Cường*, “Nghiên cứu ảnh hưởng của lớp Ti tới độ ổn định của cảm biến cộng hưởng plasmon bề mặt loại đo dòng cấu trúc ITO/aSi:H/Ti/Au”, VJST B, vol 66, số p.h 10DB, tháng 10 2024.