Vũ Xuân Mạnh, Lê Hồng Minh, Lê Văn Bé, và Nguyễn Huy Tiệp, Lê Việt Cường*. “Nghiên cứu ảnh hưởng của lớp Ti tới độ ổn định của cảm biến cộng hưởng Plasmon bề mặt loại đo dòng cấu Trúc ITO/ASi:H/Ti/Au”. Bản B của Tạp chí Khoa học và Công nghệ Việt Nam 66, no. 10DB (Tháng Mười 25, 2024). Truy cập Tháng Tám 7, 2026. https://b.vjst.vn/index.php/ban_b/article/view/3593.