Vũ Xuân Mạnh, Lê Hồng Minh, Lê Văn Bé, Nguyễn Huy Tiệp, Lê Việt Cường*. Nghiên cứu ảnh hưởng của lớp Ti tới độ ổn định của cảm biến cộng hưởng plasmon bề mặt loại đo dòng cấu trúc ITO/aSi:H/Ti/Au. VJST B [Internet]. 25 Tháng Mười 2024 [cited 7 Tháng Tám 2026];66(10DB). Available at: https://b.vjst.vn/index.php/ban_b/article/view/3593